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有机忆阻器的出现受到了低重复性、耐久性、可扩展性和低开关速度的阻碍。了解分子尺度上的主要驱动机制将是提高这种有机基器件的坚固性和可靠性的关键。

椭圆偏振光谱仪是表征复杂铁电薄膜厚度和光学常数的有效方法，其具有高准确性和高精度。本文研究包括蓝宝石衬底的各向异性已经粗糙层和镀层随深度的层间不均匀性。

本应用案例报告了通过喷雾闪蒸两种爆炸性有机化合物（CL-20和HMX）制备的结晶纳米颗粒的TERS表征。

椭圆偏振光谱是高精度表征可重写光盘上GeSbTe多层膜体系厚度和光学常数的有效手段。结果表明，近红外波段对这类材料的分析有较好的准确度。多样品分析减少了薄层的参数相关性和误差。DeltaPsi 2软件包含的建模功能够处理衬底两侧镀膜的情况，使得分析变得简单。