信息设备

透射 X 射线和荧光 X 射线同时成像可以有效地发现电子元件内部的缺陷。

是不可见的缺陷。本应用介绍了使用 XGT-9000 检测电子设备上的离子迁移、空隙和异物等故障分析，主要特点是10 μm X射线头垂直照射以及荧光 X 射线和透射 X 射线的同时成像

本应用展示了对嵌在不透明树脂中的组件故障排除和缺陷分析，包括单个组件和完整的电路板，此外ppm级别的定量分析还可以确定是否符合WEEE/RoHS 指令。