自动硅应力分析
用于工业、研究和质量测试应用的微晶硅自动化硅应力分析
拉曼光谱是研究半导体基本特性的最重要工具之一，它在表征光伏电池和微电子装置的特性方面特别有效。
机械应力和应变可以通过分析特征谱带的谱峰移动来检测，从而使拉伸和压缩应力得以量化。
Si Stress App 嵌入了 LabSpec6软件 之中，可以用于微晶硅的自动应力分析，并给出优化的分析报告
* 仅适用于欧洲、中东和非洲国家
• 自动Si应力识别和鉴定：拉伸和压缩
• 集成参考和自动数据校正，使用 "Sample-Ref "进行轻微的应力变化测量
• 单点数据到大范围成像
• 优化的分析报告模板
如您有任何疑问，请在此留下详细需求信息，我们将竭诚为您服务。
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