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通过 DLS 测定二氧化硅颗粒的尺寸
二氧化硅纳米颗粒的效用通常由粒径决定。动态光散射法能提供快速、准确和可重复的纳米颗粒尺寸信息，在此，使用SZ-100V2 对两种不同尺寸的二氧化硅颗粒进行了表征，以证明该仪器的准确性和实用性。
二氧化硅胶体通常是颗粒直径在 30–500 nm 范围内的水性悬浮液。它们通常是处于静电稳定状态，密度在 2.1 至 2.3 g/cm3范围内。二氧化硅胶体的应用包括填料、粘合剂、磨料、催化剂和吸收剂。
大多数二氧化硅胶体的颗粒表征是使用动态光散射法(DLS)进行的，例如使用SZ-100V2 纳米粒度分析仪进行表征。除此之外，由于 LA-960V2激光粒度分析仪 也可以测量30 nm以上的颗粒，因此LA-960V2也可用于对胶体二氧化硅进行测试。
二氧化硅胶体的 TEM 图像
二氧化硅胶体也可用作表征粒径和Zeta电位的基准材料。Ludox TM二氧化硅是一种众所周知的胶体材料，到目前为止人们已使用各种颗粒表征技术（包括声学光谱、激光衍射和动态光散射）对其进行了研究。这些研究的结果表明，Ludox TM二氧化硅是用作表征粒径或Zeta 电位基准材料的合适样品。
在欧盟，标准物质与测量研究所 (IRMM) 发布了两种二氧化硅胶体标准物质；ERM-FD100 和 ERM-FD304。这些样品的标准粒径为 20 和 40 nm，并包含Zeta 电位值作为附加材料信息。
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