AFM

AFM光学工作站

专业耦合各类光谱仪

AFM光学工作站允许将共焦拉曼显微镜和AFM完美耦合,用于针尖增强光学光谱,例如针尖增强拉曼光谱(TERS)和针尖增强光致发光(TEPL),也可以用于真正的同区域AFM-Raman测量。

多模式的AFM(原子力显微镜)技术借助于拉曼光谱仪中的任何激光源或其他外部照明(例如,太阳模拟器或其他可调或连续光源)来研究材料的形貌学、电学和力学特性。TERS和TEPL可以提供纳米尺度的化学和结构信息,使AFM-Raman平台成为一条双向互补的技术,为彼此提供新颖独特的成像能力。

技术及常见问题答疑

AFM-Raman (同区域测量和TERS)

 TERS将拉曼光谱引入纳米级分辨率成像。进一步了解这种超分辨率化学成像技术。

 

典型用户反馈

来自客户的肯定

文献参考

访问AFM-Raman用户出版物列表,了解TERS和TEPL是如何产生高科学影响力的。



 

用户培训班

我们的培训师是原子力显微镜-拉曼技术方面的专家。在他们的培训建议和指导下,您将可以充分利用您的HORIBA科学仪器;同时在样品分析中您将获得信心和经验。 

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在本次讲座中,我们荣幸地邀请到 HORIBA 拉曼应用领域的专家 Thibault Brulé 博士和市场应用专员 Agnès Tempez 博士,他们将为大家重点介绍光致发光显微镜和拉曼显微镜如何应对半导体领域的挑战,还将展示如何将显微光谱与原子力显微镜(AFM)相结合,以实现纳米级分辨率并进一步深化对这些结构的理解。

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