PD Xpadion

光罩/掩模颗粒检测系统

下一代检测平台,满足未来需求 

PD-Xpadion 是 HORIBA 颗粒检测产品线的最新一代。基于创新的模块化平台设计,PD Xpadion 是满足光刻和光罩生产过程中当前和未来掩模与贴膜检测需求的理想工具。工厂自动化结合了 HORIBA 的核心技术,允许用户扩展 PD Xpadion 系统,不仅包括颗粒检测和发现,还包括通过拉曼分析进行颗粒表征、贴膜膜厚及均匀性检测,以及贴膜健康监控工具。

 

事业部: 半导体
产品分类: 计量学
制造商: HORIBA, Ltd.

请选择一个本产品可售卖的国家和区域:
中国,Germany,Ireland,Israel,Italy,Korea (South),Malaysia,Singapore,中国台湾,United Kingdom,United States
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  • 通过使用光学系统组合调整检测灵敏度
  • OHT、EFEM、多端口、多槽位适配
  • 能够重新分析检测数据以加速检测配方优化
  • 与其他 HORIBA 传感器产品集成选项,如拉曼光谱学和椭偏测量
  • 减少误检功能
  • 提高用户友体验感
型号 PD Xpadion
尺寸(W) x (D) x (H)1,000 x 1,850 x 1,600 mm
重量约 950kg
检测颗粒大小图案0.5 μm / 0.35 μm (0.1 μm : 空白掩模)*¹
玻璃5.0 μm (0.5 μm - : 高灵敏度选项)*¹
贴膜10.0 μm (0.5 μm - : 高灵敏度选项)*¹
光源633 nm 氦-氖激光器 或 488 nm 固态激光器
掩模尺寸5 inch - 9 inch
机壳开口器SMIF POD, 兼容各种机壳
吞吐量约 12 min (从检测开始到2面 (6 inch检测) 结果显示)
面板表面处理不锈钢
安装环境清洁度Class6 ISO 标准 或 更好 
温度23 +/- 1°C
公用设施电源AC200-240 V, 2 kVA 50/60Hz, 单相
真空源压力 -80 kPA 或 更低
压缩空气0.6 MPa - 0.7 MPa
新功能 / 选项掩模边缘处理
自动捕获 / 自动调整大小
数据预览功能
减少误检功能

*PSL等效,HORIBA推荐客户样本测试以验证检测灵敏度。

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