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Syncerity BI-UV-VIS Spec Sheet PDF
您可以发送电子邮件至 OEM 技术销售部： OEM.US(at)horiba.com 或联系 OEM：+1.732.494.8660 Ext。7733
Syncerity探测器
深度制冷紫外/可见/近红外和真空紫外探测器
TE制冷CCD探测器，可实现120 nm至1100 nm的高灵敏度
HORIBA科学仪器部提供全系列的多通道探测器，用于从紫外到近红外的光谱测量，CCD探测器采集速度比单点检测器更快。结合HORIBA的一系列像差校正平场成像光谱仪，可以为各种应用提供OEM方案。
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| 制冷方式 | 类型 | 量子效率峰值 | 像素阵列 | 像素尺寸 |
|---|---|---|---|---|---|
Syncerity | TE 制冷-50°C | BI UV-VIS | 78% | 2048 x 70 | 14 µm x 14 µm |
TE 制冷-60°C | FI-UV-VIS | 58% | 1024 x 256 | 26 µm x 26 µm | |
| TE 制冷–50°C | BI-NIR | 80% | 2048 x 70 | 14 µm x 14 µm | |
| TE 制冷–50°C | VUV | 58% | 2048 × 70 | 14 μm × 14 μm |
不同类型CCD的量子效率
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