256 × 256 points simultaneously acquired topography image (right) and composite Raman map (left) of graphene.
拉曼和AFM (Atomic Force Microscope) 分析可以集成到一套系统，开发出仪器全新的功能。可以同时实现样品
的物理和化学信息表征。同区域成像测试可以连续或同时进行，AFM图和拉曼成像图完全重合。
一方面，AFM和其它一些SPM技术，例如扫描隧道显微镜 (STM)、音叉模式 (剪切力和正交力) ，可以获取样品纳米尺度的表面形貌、力学、热学和磁学信息；另一方面，共焦拉曼光谱可以获取样品化学信息，但受光学衍射极限的限制，分辨率是亚微米级。
