Size:
0.47
MB
Si Stress Flyer
Si Stress
Analyse automatisée des contraintes dans le silicium
Analyse automatisée des contraintes dans le silicium pour les applications industrielles, de recherche et de contrôle qualité du silicium microcristallin
La spectroscopie Raman est l'un des outils les plus importants pour étudier les propriétés fondamentales des semi-conducteurs. Elle est particulièrement efficace pour établir les caractéristiques des cellules photovoltaïques et des dispositifs microélectroniques.
Les contraintes et les déformations mécaniques peuvent être détectées par l'analyse du décalage spectral de la position de la bande, ce qui permet de quantifier les contraintes de traction et de compression.
L'application Si Stress rejoint la suite logicielle LabSpec 6 pour l'analyse automatisée des contraintes dans le silicium microcristallin avec des rapports d'analyse optimisés.
Accédez à notre centre de ressources vidéo LabSpec 6 pour maîtriser parfaitement votre logiciel de spectroscopie LabSpec 6.
- Identification et qualification automatiques des contraintes dans le silicium : traction et compression
- Référence intégrée et correction automatisée des données avec l'accessoire « Sample-Ref » pour les mesures de contrainte de très faible niveau
- Données à point unique ou grandes cartographies
- Modèle de rapport d'analyse optimisé
