Advanced Semi Materials

(概要文検討中)

分光エリプソメーター UVISEL Plus

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自動薄膜計測装置 Auto SE

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ラマンイメージング装置 LabRAM Soleil

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顕微ラマン分光測定装置 LabRAM Odyssey

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ラマン顕微鏡 XploRA PLUS

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原子間力顕微鏡（AFM）-ラマン分光統合装置 AFM Raman

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電子顕微鏡用カソードルミネッセンスソリューション CLUEシリーズ

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蛍光寿命測定装置 DeltaFlex

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遠心式ナノ粒子解析装置 Partica CENTRIFUGE

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ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2 アクセサリ・アプリケーション

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-OES

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SCIENTIFIC PRODUCT NAVI

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Semiconductor navi

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RamanNavi

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＜出展ソリューション　ダウンロードページ＞
・Fluid Control　・Chamber Health Monitoring　・Facility / Subfab　・Thin Film Metrology　
・Chemical Concentration Monitor　・Mask Inspection

HORIBA SHOWCASE　「SEMICON Japan 2024」　トップページにもどる