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MB
ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2
| SZ-100 | タイプ名 | 粒子径 | ゼータ電位 | 分子量 | ハイパワーレーザ |
| S2 | 〇 | 〇 | |||
| Z2 | 〇 | 〇 | 〇 | ||
| HS2 | 〇 | 〇 | 〇 | ||
| HZ2 | 〇 | 〇 | 〇 | 〇 |
| 測定原理 | 粒子径： 光子相関法 |
| ゼータ電位： 電気泳動レーザドップラー法 | |
| 分子量： 静的光散乱Debyeプロット | |
| ゲル測定 ： 光子相関法 | |
| 測定範囲 | 粒子径： 0.3 nm ～ 10 μm （直径） |
| ゼータ電位： -500 mV ～ +500 mV （粒子： 2.0 nm～100 μm*1) | |
| 分子量： 1000 ～ 2 x 107 （Debyeプロット）、540 ～ 2 x 107 （MHS式*2） | |
| ゲル測定 ： 0.3nm～10μm（網目サイズ） | |
| ゲル・粒子径測定角度 | 90° および173° （ただし、試料濃度による） |
| 使用可能分散媒 | 水、エタノール、有機溶媒（ただし、セル材質による） |
| サンプルセル | キュベットセル（粒子径・分子量・ ゲル ）、電極付きセル（ゼータ電位） |
| 測定時間 | 粒子径測定 ：通常約2分（粒子径測定時、測定開始から結果表示まで） |
| ゼータ電位：通常約2分（粒子径測定時、測定開始から結果表示まで） | |
| ゲル測定：通常約20分（粒子径測定時、測定開始から結果表示まで） | |
| 測定部光学系 | 光源： 半導体励起固体レーザ 532 nm 10 mW、または 100 mW |
| 検出器： 光電子倍増管（PMT） | |
| ホルダ温度温調設定温度 | 0～90℃（プラスチック製セルおよび電極付きセルは70℃まで） |
| レーザクラス | クラス1 |
| データ処理・操作部 |
|
*1: 試料に依存します
*2: Mark-Howink-Sakurada式より算出（試料に依存します）
