測定レンジ | 532nm レーザー: 210~3500cm–1 660nm レーザー: 400~3150cm–1 785nm レーザー: 210~2700cm–1 |
口径比 | f/3.1 |
迷光 | 0.1%(0.2%) (バンドパスフィルター 780BP10による測定) |
CCD検出器 標準量子効率 | 裏面入射型CCD 低エタロニング タイプ(NIR) 量子効率:55% (850nm) |
検出器高さ ファイバー径 | 300μm(オプション:1000μm) 200 又は 300 μm 径, 1mファイバー長(1mm 高さ CCD, RTS バンドルファイバー) |
熱安定性 | 暗電流とCCDパターンノイズは引く必要があります。レーザーをオフにする又は光路にシャッターを設置しなければなりません。量子効率は温度変化と共にシフトいたします。 |
波長分解能 スリット | 785nm: 8-12cm-1分解能(25μmスリット、2048画素、0.19nm/画素)300μm高さCCD 御提供可能スリット: 12-25-37-50-62-75-100-125-150-200 μm |
CCD フルウェル非線形性補正後非線形性 | >250 ke– (sensitivity mode) <1% (sensitivity mode) <0.4%(sensitivity mode) |
ダイナミックレンジ | 7000:1(sensitivity modeにて) |
A/D コンバーター | 16bit, 500kHz(pixel rate); オプション:2MHz VIS-CCD |
暗電流 | 1 count/ms at 20°C(室温); オフセット= 1000counts |
読み出しノイズ | 35e– (max= 45e–)in sensitivity mode (4e–/count) |
読み出し速度 | 8.6ms(500 kHz mode);0露光時間にて116 spectra/s(Multi-Acq mode) 最大: 4.5ms(Ultra mode); 0露光時間にて223 spectra/s(Multi-Acq mode) |
ゲイン | 4 e–/count と6 e–/count |
寸法 (H × W × D) | 4” × 2.71” × 1.49”(101.6mm × 68.8mm × 37.8mm) |
重量 | 0.82 kg |
* 仕様、校正、外枠は予告無く変更される場合があります。
ソフトウェア
解析ソフト(Lab View™ 2011 only)
VIsとTop Level Codeはカスタム化は可能でございます。
CCD非線形補正は出荷前に実施させて頂きます。
<特徴>
- CCD 設定と暗電流補正
- 基板又はソフトウェアによる平均化
- 画素、波長、波数のスケールの選択
- 波長校正
- 線形補正
- Excel® 又は text fileへの変換
本ソフトを使用するにあたりLabVIEW™ ライセンスは不要でございますがコードをカスタマイズするにあたりましてはLabVIEW™ license ver. 2011が必要となります。このコードのカスタム化は別途見積となります。