超高速測定!
0.1秒未満の時間間隔での蛍光スペクトル測定を実現
真の励起・蛍光スペクトル測定!
1台で蛍光と吸光を測定し、自動的に吸光度補正が可能(A-TEEM)
近赤外測定!
250~1,100 nmまでの蛍光スペクトル測定が可能
高速スペクトル測定を実現!
10秒で100スペクトルを測定!
光電子増倍管(PMT)を用いた蛍光分光測定装置では、分光素子(グレーティング)を回転させながら検出波長を選択するため、広い波長範囲の測定には時間がかかります。DuettaではマルチチャンネルのCCD検出器を用いていますので、一瞬で広い波長範囲の蛍光測定ができるため飛躍的にスペクトルの測定時間を短縮できます。
BSAとANS間のFRET分析(ANS(3×10-6M)を滴下後100ミリ秒ごとの発光スペクトルを測定
近赤外の蛍光分析が容易に!
1000nmを超えるスペクトルを測定!
一般的な蛍光分光測定装置では検出器の感度が800 nm付近から急激に悪くなり、800 nm以上の波長領域のスペクトル測定は困難でしたが、Duettaでは1100nmまで感度のある検出器を用いているため800 nm以上の波長領域も容易にぺクトル測定が可能です。
蛍光と吸光を1台で測定!
真の蛍光スペクトルを取得!
蛍光測定では、吸光度が高い試料の測定において、濃度と蛍光強度が線形関係にならない内部遮蔽効果(Inner Filter effect, IFE)が問題となります。Duettaでは蛍光と吸光を1台で測定でき、吸光測定した結果をもとに蛍光スペクトルを自動補正し、正しい蛍光スペクトルを取得できます。
内部部遮断効果(IFE)補正あり、およびなしの場合の量子ドットの発光スペクトル(挿入図は発光強度を規格化されたスペクトル)
HORIBAの独自技術「A-TEEM」とは?
A-TEEM: Absorbance-Transmittance and fluorescence Excitation Emission Matrix
試料の蛍光と吸収を同時に測定し、真の励起・蛍光スペクトルを得るHORIBA が開発した測定技術
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