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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2
装置に内蔵、測定中の粒子の状態を簡単操作で観察できます(9~1000μm)。
Particaシリーズに新たなラインアップが追加。本体に内蔵の画像解析ユニットにより、測定中の粒子の状態を観察できるようになりました。レーザ回折/散乱式で得られる統計的な粒子径分布の情報に加え、凝集物や異物などの少量の粗大粒子を見つけ出し、画像情報により粒子の状態が観察できます。さらに、泡の混入状態も把握でき、界面活性剤の影響などで気泡が混入しやすい条件でも、より信頼性の高い粒子径分布測定が可能です。
また、画像解析といえばパラメータの多いソフトウェアといった印象を払拭する、非常にシンプルなGUIを実現しているため簡単に操作できます。
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