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分析・試験サービス

分野別

エネルギー・環境

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先端材料・半導体

事象別

  • 応力・歪み解析
  • 組成分析

手法別

分光分析

  • ラマン分光
  • 蛍光分光
  • 蛍光寿命
  • FTIR
  • 分光エリプソメーター
  • カソードルミネッセンス

 

粒子分析

  • レーザ回析/散乱式
  • 動的光散乱式
  • 遠心沈降式
  • 粒子ナノトラッキング

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元素分析

  • 蛍光X線分析
  • SEM/EDX分析
  • グロー放電発光分析
  • 固体中C/S,O/N/H
  • ICP発光分析

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ガス・水質分析

  • イオンクロマトグラフ
  • 油分濃度測定
  • 全リン全窒素
  • COD分析

 分析手法分析対象
表面分析マーカス型グロー放電分析(GD-OES)元素分析・定量分析・深さ方向分布
分光エリプソメトリー膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数など)表面ラフネス・バンドギャップ・結晶化率・多層膜構造
分光分析蛍光分光蛍光・りん光スペクトル・蛍光寿命
ラマン分光構造解析(定性・結晶性・応力・配向など)のポイント分析とマッピング・TERS
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)構造解析(定性・結晶性など)のポイント分析とマッピング
カソードルミネッセンス(CL)バンドギャップ・欠陥・不純物のポイント分析とイメージング
フォトルミネッセンス(PL)バンドギャップ・欠陥・不純物のポイント分析とマッピング
油分濃度計油分濃度
元素分析エネルギー分散型X線分析(EDX)元素分析のポイント分析とマッピング
蛍光X線(XRF)元素分析・定量分析
顕微蛍光X線(µ-XRF)元素分析・定量分析のポイント分析とマッピング
無機/有機 元素分析炭素・硫黄/酸素・窒素・水素の定量分析
粒子解析レーザ回折/散乱法粒子径分布(粒度分布)
動的光散乱法粒子サイズ・ゼータ電位・分子量
クロマトグラフィーイオンクロマトグラフィーイオン種の定量・定性分析
画像X線透過観察X線透過画像
電子顕微鏡反射電子像・二次電子像
光学顕微鏡明視野・暗視野・偏光観察・微分干渉

分析ご相談窓口

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