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■フォトルミネッセンス測定のイメージング測定 薄膜状態で発光ダイオードとなる、光起電材料のセレン化タングステン剥片のフォトルミネッセンス(PL)測定とより詳細情報が得られるチップ増強フォトルミネッセンス(TEPL)のイメージング測定を実施しました。 チップ増強することにより通常のPLではわからない微小エリアでの欠陥分布が取得できます。