Semiconductors

Thin film analysis in liquid

Analysis using a spectroscopic ellipsometer liquid measurement cell

Swelling of thin polymer films in liquid can be easily evaluated.

Evaluation of optical constants for film thickness on the order of Å
The phase modulation method and temperature control function, which do not involve mechanical movement, suppress the effects of vibrations and enable reliable evaluation with a high signal-to-noise ratio.
Film thickness evaluation up to 85 μm (depending on film condition)
High wavelength resolution and unique optical system enable film thickness evaluation over a wide range.

Spectroscopic Ellipsometer from FUV to NIR: 190 to 2100 nm

Masz pytania lub prośby? Skorzystaj z tego formularza, aby skontaktować się z naszymi specjalistami.

Pierwsze imię

Nazwisko *

Firma lub Instytucja *

Kod pocztowy *

Miasto

Kraj/Region *

Stan

Adres e-mail *

Numer telefonu

Departament HORIBA

Wiadomość *

Przeczytałem/am i zgadzam się z polityką prywatności HORIBA

* Te pola są obowiązkowe.