Precise Editing on Graphene Surface

Related Information

AFM Optical Platform

The AFM platform allows fully-integrated use of confocal Raman microscopy and AFM for Tip-Enhanced Optical Spectroscopies (TERS, TEPL), but also for truly co-localized AFM-Raman measurements.
 

Wniosek o udzielenie informacji

Masz pytania lub prośby? Skorzystaj z tego formularza, aby skontaktować się z naszymi specjalistami.

* Te pola są obowiązkowe.

Corporate