Semiconductors

SiC carrier lifetime analysis

Carrier lifetime analysis of different SiC film formation conditions by PL lifetime measurement

Substrates with a large amount of dopant have a short PL lifetime and a PL peak appears around 500 nm.

Fluorescence lifetime measurement device DeltaFlex

  • Observe differences in carrier life by measuring PL life
  • Diverse light source wavelength repertoire
  • Supports a wide range of PL life from picoseconds to several seconds
DeltaFlex
DeltaFlex

TCSPC/MCS Fluorescence Lifetime System

Запросить информацию

У вас есть вопросы или пожелания? Используйте эту форму, чтобы связаться с нашими специалистами.

* Эти поля обязательны для заполнения.