Precise Editing on Graphene Surface

Related Information

AFM Optical Platform

The AFM platform allows fully-integrated use of confocal Raman microscopy and AFM for Tip-Enhanced Optical Spectroscopies (TERS, TEPL), but also for truly co-localized AFM-Raman measurements.
 

Запросить информацию

У вас есть вопросы или пожелания? Используйте эту форму, чтобы связаться с нашими специалистами.

* Эти поля обязательны для заполнения.

Corporate