• 由於手動分析需要成本、技能和時間
• 想知道更換化學濾網的適當時間
• 電子元件的模具腐蝕
• 霧鏡鏡片製造設備
• 氧化膜的突破電壓下降
• 蝕刻誤差
• 薄膜異常生長

HORIBA的AMC監測系統支援透過自動測量監測污染物濃度趨勢和化學過濾器維護，並強化基於手動分析的傳統測量，有助於解決客戶的問題。透過對室外大氣的組合測量，我們可以利用該系統提供更全面的測量解決方案。

特徵

• 穩定的自動連續測量

          透過監控趨勢來估計產品/週邊設備缺陷的原因以及何時更換化學過濾器

• 操作簡單

          不需要特殊技能。降低管理成本、時間和人力成本

• 根據客製化建立系統

          選線器和便攜式推車式（可選）的多點測量。

          不僅支援潔淨室測量還支援室外空氣測量。

• 測量潔淨室內或通風空氣中的空氣分子污染物 (AMC)
• 設備的外圍多點的集中測量
• 檢測特定事件，例如由於交通量增加（室外大氣）而導致的氮氧化物濃度升高。